Ramanův spektrometr a mikroskop atomárních sil

Ramanův spektrometr

  • Tři vlnové délky laseru: 532 nm, 638 nm, 785 nm
  • Čtyři mřížky 600 gr, 1200 gr, 1800 gr, 2400 gr
  • Spektrální rozlišení <1,4 cm -1
  • Konfokální mikroskop
  • Skenování v režimu SWIFT pro rychlé mapování
  • Laterální rozlišení: 500 nm
  • Rozlišení TERS: 15 nm

Mikroskop atomárních sil

  • STM, vodivé AFM. rozsahy 1 nA, 100 nA, 10 uA
  • Rozsah skenování 100 um x 100 um x 15 um
  • Vertikální rozlišení: <1 nm
  • Horizontální rozlišení: závisí na zakřivení špičky
  • Kontaktní režim, polokontaktní režim, bezkontaktní režim
  • Fázové zobrazování, laterální silová mikroskopie a modulace síly
  • Kelvinova sonda (mikroskopie povrchového potenciálu)

Ramanův spektrometr kombinovaný s mikroskopem atomové síly 

  • Přímý Ramanův přístup ze strany a shora umožňuje simultánní měření Raman a AFM
  • Kombinace AFM a Raman umožňuje Ramanovu spektroskopii, která vytváří Ramanovo rozlišení až 15 nm.

Dr. Nathan Goodfriend

Postdoctoral Researcher: Nanomateriály; nathan.goodfriend(at)hilase.cz; +420 314 007 733